Steve Schulze; Avishay Gal-Yam; Luc Dessart; Adam A. Miller; Stan E. Woosley; Yi Yang; Mattia Bulla; Ofer Yaron; Jesper Sollerman; Alexei V. Filippenko; K-Ryan Hinds; Daniel A. Perley; Daichi Tsuna; Ragnhild Lunnan; Nikhil Sarin; Seán J. Brennan; Thomas G. Brink; Rachel J. Bruch; Ping Chen; Kaustav K. Das; Suhail Dhawan; Claes Fransson; Christoffer Fremling; Anjasha Gangopadhyay; Ido Irani; Anders Jerkstrand; Nikola Knežević; Doron Kushnir; Keiichi Maeda; Kate Maguire; Eran Ofek; Conor M. B. Omand; Yu-Jing Qin; Yashvi Sharma; Tawny Sit; Gokul P. Srinivasaragavan; Nora L. Strothjohann; Yuki Takei; Eli Waxman; Lin Yan; Yuhan Yao; WeiKang Zheng; Erez A. Zimmerman; Eric C. Bellm; Michael W. Coughlin; Frank J. Masci; Josiah Purdum; Mickaël Rigault; Avery Wold; Shrinivas R. Kulkarni
Schweyer, T.; Sollerman, J.; Jerkstrand, A.; Ergon, M.; Chen, T. -w.; Omand, C. M. B.; Schulze, S.; Coughlin, M. W.; Andreoni, I.; Fremling, C.; Rau, A.; Sharma, Y.; Strotjohann, N. L.; Yan, L.; Graham, M. J.; Kasliwal, M. M.; Laher, R. R.; Purdum, J.; Rosnet, P.; Rusholme, B.; Smith, R.
Gkini, A.; Lunnan, R.; Schulze, S.; Dessart, L.; Brennan, S. J.; Sollerman, J.; Pessi, P. J.; Nicholl, M.; Yan, L.; Omand, C. M. B.; Kangas, T.; Moore, T.; Anderson, J. P.; Chen, T. -W.; Gonzalez, E. P.; Gromadzki, M.; Gutierrez, C. P.; Hiramatsu, D.; Howell, D. A.; Ihanec, N.; Inserra, C.; McCully, C.; Muller-Bravo, T. E.; Pellegrino, C.; Pignata, G.; Pursiainen, M.; Young, D. R.
Margutti, Raffaella; Bright, J. S.; Matthews, D. J.; Coppejans, D. L.; Alexander, K. D.; Berger, E.; Bietenholz, M.; Chornock, R.; DeMarchi, L.; Drout, M. R.; Eftekhari, T.; Jacobson-Galan, W. V.; Laskar, T.; Milisavljevic, D.; Murase, K.; Nicholl, M.; Omand, C. M. B.; Stroh, M.; Terreran, G.; VanderLey, B. A.
West, S. L.; Lunnan, R.; Omand, C. M. B.; Kangas, T.; Schulze, S.; Strotjohann, N. L.; Yang, S.; Fransson, C.; Sollerman, J.; Perley, D.; Yan, L.; Chen, T. -w.; Chen, Z. H.; Taggart, K.; Fremling, C.; Bloom, J. S.; Drake, A.; Graham, M. J.; Kasliwal, M. M.; Laher, R.; Medford, M. S.; Neill, J. D.; Riddle, R.; Shupe, D.