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Alfredo Benítez Lara

instituto nacional de astrofisica, optica y electronica
H指数:10
被引数:397

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荣誉奖项

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Influence of the Si-Layer Thickness on the Structural, Compositional and Resistive Switching Properties of SiO2/Si/SiO2 Stack Layers for Resistive Switching Memories

Si层厚度对SiO2/Si/SiO2堆叠层结构、组分及电阻式开关特性的影响,应用于电阻式开关存储器

2025-12-100
OAAI
Spectroscopic Properties of Si-nc in SiOxFilms Using HFCVD
2020-07-2013
OAAI