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Li, Te-Sheng

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发表时间

Defect spatial pattern recognition using a hybrid SOM-SVM approach in semiconductor manufacturing 半导体制造中使用混合som-svm方法进行缺陷空间模式识别

EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS

IF7.5

2009-01-01

79

PREAI

Li, Te-Sheng; Huang, Cheng-Lung

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