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收藏Gate breakdown induced stuck bits in sub-20 nm FinFET SRAM
Sun, Qian; Chi, Yaqing; Guo, Yang; Liang, Bin; Tao, Ming; Wu, Zhenyu; Guo, Hongxia; Zheng, Qiwen; Chen, Wangyong; Gao, Yulin; Zhao, Peixiong; Li, Xingji; Chen, Jianjun; Luo, Deng; Sun, Hanhan; Fang, Yahao
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