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Petriu, EM
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Some aspects of pseudo random binary array-based surface characterization
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
IF
5.9
2000-01-01
27
PRE
AI
Spoelder, HJW; Vos, FM; Petriu, EM; Groen, FCA
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合作学者
合作期刊
F
Frans M. Vos
H 指数: 31 · 论文数: 183
F
F.C.A. Groen
H 指数: 16 · 论文数: 97
H
H.J.W. Spoelder
H 指数: 16 · 论文数: 56
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