Lis, D. C.; Schilke, P.; Bergin, E. A.; Gerin, M.; Black, J. H.; Comito, C.; De Luca, M.; Godard, B.; Higgins, R.; Le Petit, F.; Pearson, J. C.; Pellegrini, E. W.; Phillips, T. G.; Yu, S.
Caselli, P.; Keto, E.; Pagani, L.; Aikawa, Y.; Yildiz, U. A.; van der Tak, F. F. S.; Tafalla, M.; Bergin, E. A.; Nisini, B.; Codella, C.; van Dishoeck, E. F.; Bachiller, R.; Baudry, A.; Benedettini, M.; Benz, A. O.; Bjerkeli, P.; Blake, G. A.; Bontemps, S.; Braine, J.; Bruderer, S.; Cernicharo, J.; Daniel, F.; di Giorgio, A. M.; Dominik, C.; Doty, S. D.; Encrenaz, P.; Fich, M.; Fuente, A.; Gaier, T.; Giannini, T.; Goicoechea, J. R.; de Graauw, Th.; Helmich, F.; Herczeg, G. J.; Herpin, F.; Hogerheijde, M. R.; Jackson, B.; Jacq, T.; Javadi, H.; Johnstone, D.; Jorgensen, J. K.; Kester, D.; Kristensen, L. E.; Laauwen, W.; Larsson, B.; Lis, D.; Liseau, R.; Luinge, W.; Marseille, M.; McCoey, C.; Megej, A.; Melnick, G.; Neufeld, D.; Olberg, M.; Parise, B.; Pearson, J. C.; Plume, R.; Risacher, C.; Santiago-Garcia, J.; Saraceno, P.; Shipman, R.; Siegel, P.; van Kempen, T. A.; Visser, R.; Wampfler, S. F.; Wyrowski, F.