未登录The Palomar Transient Factory photometric catalog 1.0
Ofek, E. O.; Laher, R.; Surace, J.; Levitan, D.; Sesar, B.; Horesh, A.; Law, N.; van Eyken, J. C.; Kulkarni, S. R.; Prince, T. A.; Nugent, P.; Sullivan, M.; Yaron, O.; Pickles, A.; Agueeros, M.; Arcavi, I.; Bildsten, L.; Bloom, J.; Cenko, S. B.; Gal-Yam, A.; Grillmair, C.; Helou, G.; Kasliwal, M. M.; Poznanski, D.; Quimby, R. .png)
分享.png)
收藏The Palomar Transient Factory Photometric CalibrationOfek, E. O.; Laher, R.; Law, N.; Surace, J.; Levitan, D.; Sesar, B.; Horesh, A.; Poznanski, D.; van Eyken, J. C.; Kulkarni, S. R.; Nugent, P.; Zolkower, J.; Walters, R.; Sullivan, M.; Agueeros, M.; Bildsten, L.; Bloom, J.; Cenko, S. B.; Gal-Yam, A.; Grillmair, C.; Helou, G.; Kasliwal, M. M.; Quimby, R. 分享 收藏 
.png){kind=icon}
.png){kind=icon}
.png){kind=icon}
.png){kind=icon}
