.png){kind=icon}
返回
G
Galli, L.
ETH Zurich
0H指数
2论文数
0被引数
收录论文 1
发表时间
- 发表时间
- IF
- 被引数
.png){kind=icon}
Muon polarization in the MEG experiment: predictions and measurements.png)
2016-04-22
14
OAAI
Baldini, A. M.; Bao, Y.; Baracchini, E.; Bemporad, C.; Berg, F.; Biasotti, M.; Boca, G.; Cattaneo, P. W.; Cavoto, G.; Cei, F.; Chiarello, G.; Chiri, C.; De Bari, A.; De Gerone, M.; D'Onofrio, A.; Dussoni, S.; Fujii, Y.; Galli, L.; Gatti, F.; Grancagnolo, F.; Grassi, M.; Graziosi, A.; Grigoriev, D. N.; Haruyama, T.; Hildebrandt, M.; Hodge, Z.; Ieki, K.; Ignatov, F.; Iwamoto, T.; Kaneko, D.; Kang, T. I.; Kettle, P. -R.; Khazin, B. I.; Khomutov, N.; Korenchenko, A.; Kravchuk, N.; Lim, G. M. A.; Mihara, S.; Molzon, W.; Mori, Toshinori; Mtchedlishvili, A.; Nakaura, S.; Nicolo, D.; Nishiguchi, H.; Nishimura, M.; Ogawa, S.; Ootani, W.; Panareoa, M.; Papa, A.; Pepinoa, A.; Piredda, G.; Pizzigoni, G.; Popov, A.; Renga, F.; Ripiccini, E.; Ritt, S.; Rossella, M.; Rutar, G.; Sawada, R.; Sergiampietri, F.; Signorelli, G.; Tassielli, G. F.; Tenchini, F.; Uchiyama, Y.; Venturini, M.; Voena, C.; Yamamoto, A.; Yoshida, K.; You, Z.; Yudin, Yu. V.
.png){kind=icon}
2016-04-2214OAAIBaldini, A. M.; Bao, Y.; Baracchini, E.; Bemporad, C.; Berg, F.; Biasotti, M.; Boca, G.; Cattaneo, P. W.; Cavoto, G.; Cei, F.; Chiarello, G.; Chiri, C.; De Bari, A.; De Gerone, M.; D'Onofrio, A.; Dussoni, S.; Fujii, Y.; Galli, L.; Gatti, F.; Grancagnolo, F.; Grassi, M.; Graziosi, A.; Grigoriev, D. N.; Haruyama, T.; Hildebrandt, M.; Hodge, Z.; Ieki, K.; Ignatov, F.; Iwamoto, T.; Kaneko, D.; Kang, T. I.; Kettle, P. -R.; Khazin, B. I.; Khomutov, N.; Korenchenko, A.; Kravchuk, N.; Lim, G. M. A.; Mihara, S.; Molzon, W.; Mori, Toshinori; Mtchedlishvili, A.; Nakaura, S.; Nicolo, D.; Nishiguchi, H.; Nishimura, M.; Ogawa, S.; Ootani, W.; Panareoa, M.; Papa, A.; Pepinoa, A.; Piredda, G.; Pizzigoni, G.; Popov, A.; Renga, F.; Ripiccini, E.; Ritt, S.; Rossella, M.; Rutar, G.; Sawada, R.; Sergiampietri, F.; Signorelli, G.; Tassielli, G. F.; Tenchini, F.; Uchiyama, Y.; Venturini, M.; Voena, C.; Yamamoto, A.; Yoshida, K.; You, Z.; Yudin, Yu. V..png){kind=icon}
分享.png){kind=icon}
收藏