C
Chunxu Lin
H指数:10
被引数:337
个人简介
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教育背景
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工作经历
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荣誉奖项
暂无内容
孟, X.; 谢, D.; 林, H.; 林, C.; 格, X.; 刘, Z. 基于耗散性的多端口稳定性根本原因识别与缓解方法研究. IEEE 产业电子汇刊, 2026. 提前发布. [Google Scholar] [CrossRef]
CHBMCs中改进的故障诊断能力:通过E-SVM单元实现多OC开关的计数器设计
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ISA Transactions
IF6.5
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