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收藏Effect of substrate charging on the reliability of capacitive RF MEMS switches基板充电对电容式RF MEMS开关可靠性的影响
Czarnecki, P.; Rottenberg, X.; Soussan, P.; Ekkels, P.; Muller, P.; Nolmans, P.; De Raedt, W.; Tilmans, H. A. C.; Puers, R.; Marchand, L.; De Wolf, I.
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