arrow
返回
C

Chu-Shik Kang

institute for basic science - korea (ibs)

22H指数
118论文数
1.5K被引数
收录论文 20
发表时间
Alpha backgrounds in the AMoRE-Pilot experimentAMoRE-Pilot实验中的Alpha背景
err2022-12-16
err3
errOAAI
errAlenkov, V.; Bae, H. W.; Beyer, J.; Boiko, R. S.; Boonin, K.; Buzanov, O.; Chanthima, N.; Cheoun, M. K.; Choi, S. H.; Danevich, F. A.; Djamal, M.; Drung, D.; Enss, C.; Fleischmann, A.; Gangapshev, A.; Gastaldo, L.; Gavriljuk, Yu. M.; Gezhaev, A.; Grigoryeva, V. D.; Gurentsov, V.; Ha, D. H.; Ha, C.; Ha, E. J.; Hahn, I.; Jeon, E. J.; Jeon, J.; Jo, H. S.; Kaewkhao, J.; Kang, C. S.; Kang, S. J.; Kang, W. G.; Karki, S.; Kazalov, V.; Khan, A.; Khan, S.; Kim, D. -Y.; Kim, G. W.; Kim, H. B.; Kim, H. J.; Kim, H. L.; Kim, H. S.; Kim, I.; Kim, W. T.; Kim, S. R.; Kim, S. C.; Kim, S. K.; Kim, Y. D.; Kim, Y. H.; Kirdsiri, K.; Ko, Y. J.; Kobychev, V. V.; Kornoukhov, V.; Kuz'minov, V.; Kwon, D. H.; Lee, C.; Lee, E. K.; Lee, H. J.; Lee, H. S.; Lee, J.; Lee, J. S.; Lee, J. Y.; Lee, K. B.; Lee, M. H.; Lee, M. K.; Lee, S. H.; Lee, S. W.; Leonard, D. S.; Li, J.; Li, Y.; Limkitjaroenporn, P.; Mailyan, B.; Makarov, E. P.; Oh, S. Y.; Oh, Y. M.; Gileva, O.; Olsen, S.; Pabitra, A.; Panasenko, S.; Pandey, I.; Park, C. W.; Park, H. K.; Park, H. S.; Park, K. S.; Park, S. Y.; Polischuk, O. G.; Prihtiadi, H.; Ra, S. J.; Ratkevich, S.; Rooh, G.; Sari, M. B.; Seo, J.; Seo, K. M.; Shin, J. W.; Shin, K. A.; Shlegel, V. N.; Siyeon, K.; Sokur, N. V.; Son, J. -K.; Srisittipokakun, N.; Toibaev, N.; Tretyak, V. I.; Wirawan, R.; Woo, K. R.; Yoon, Y. S.; Yue, Q.
err分享
err收藏
Hybrid optical measurement system for evaluation of precision two-dimensional planar stages
err2022-05-01
err6
errOAAI
errKim, Jong-Ahn; Lee, Jae Yong; Kang, Chu-Shik; Woo, Jae Heun
err分享
err收藏
err分享
err收藏
On-machine calibration of angular position and runout of a precision rotation stage using two absolute position sensors
err2020-03-01
err13
PREAI
errKim, Jong-Ahn; Kim, Jae Wan; Kang, Chu-Shik; Lee, Jae Yong; Jin, Jonghan
err分享
err收藏
First results from the AMoRE-Pilot neutrinoless double beta decay experiment
err2019-09-24
err52
errOAAI
errAlenkov, V.; Bae, H. W.; Beyer, J.; Boiko, R. S.; Boonin, K.; Buzanov, O.; Chanthima, N.; Cheoun, M. K.; Chernyak, D. M.; Choe, J. S.; Choi, S.; Danevich, F. A.; Djamal, M.; Drung, D.; Enss, C.; Fleischmann, A.; Gangapshev, A. M.; Gastaldo, L.; Gavriljuk, Yu. M.; Gezhaev, A. M.; Grigoryeva, V. D.; Gurentsov, V. I.; Gylova, O.; Ha, C.; Ha, D. H.; Ha, E. J.; Hahn, I. S.; Jang, C. H.; Jeon, E. J.; Jeon, J. A.; Jo, H. S.; Kaewkhao, J.; Kang, C. S.; Kang, S. J.; Kang, W. G.; Kazalov, V. V.; Kempf, S.; Khan, A.; Khan, S.; Kim, D. Y.; Kim, G. W.; Kim, H. B.; Kim, H. J.; Kim, H. L.; Kim, H. S.; Kim, I.; Kim, S. C.; Kim, S. G.; Kim, S. K.; Kim, S. R.; Kim, W. T.; Kim, Y. D.; Kim, Y. H.; Kirdsiri, K.; Ko, Y. J.; Kobychev, V. V.; Kornoukhov, V.; Kuzminov, V. V.; Kwon, D. H.; Lee, C.; Lee, E. K.; Lee, H. J.; Lee, H. S.; Lee, J. S.; Lee, J. Y.; Lee, K. B.; Lee, M. H.; Lee, M. K.; Lee, S. W.; Lee, S. W.; Lee, S. H.; Leonard, D.; Li, J.; Li, J.; Li, Y.; Limkitjaroenporn, P.; Makarov, E. P.; Oh, S. Y.; Oh, Y. M.; Olsen, S. L.; Pabitra, A.; Panasenko, S. I.; Pandey, I.; Park, C. W.; Park, H. K.; Park, H. S.; Park, K. S.; Park, S. Y.; Poda, D. V.; Polischuk, O. G.; Prihtiadi, H.; Ra, S. J.; Ratkevich, S. S.; Rooh, G.; Sari, M. B.; Seo, K. M.; Shin, J. W.; Shin, K. A.; Shlegel, V. N.; Siyeon, K.; So, J. H.; Son, J. K.; Srisittipokakun, N.; Sujita, K.; Tretyak, V. I.; Wirawan, R.; Woo, K. R.; Yoon, Y. S.; Yue, Q.; Zaman, S. U.
err分享
err收藏
Time-of-flight detection of femtosecond laser pulses for precise measurement of large microelectronic step height
err2018-03-19
err23
PREAI
errLu, Xing; Zhang, Shuangyou; Jeon, Chan-Gi; Kang, Chu-Shik; Kim, Jungwon; Shi, Kebin
err分享
err收藏
Application of metallic magnetic calorimeter in rare event search
err2017-08-09
err39
errOAAI
errKim, I.; Jo, H. S.; Kang, C. S.; Kim, G. B.; Kim, H. L.; Kim, S. R.; Kim, Y. H.; Lee, H. J.; Lee, J. H.; Lee, M. K.; Oh, S. Y.; So, J. H.
err分享
err收藏
MMC-based low-temperature detector system of the AMoRE-Pilot experiment
err2017-07-10
err27
PREAI
errKang, C. S.; Jeon, J. A.; Jo, H. S.; Kim, G. B.; Kim, H. L.; Kim, I.; Kim, S. R.; Kim, Y. H.; Kwon, D. H.; Lee, C.; Lee, H. J.; Lee, M. K.; Lee, S. H.; Oh, S. Y.; So, J. H.; Yoon, Y. S.
err分享
err收藏
Novel measurement method of heat and light detection for neutrinoless double beta decay
err2017-05-01
err40
errOAAI
errKim, G. B.; Choi, J. H.; Jo, H. S.; Kang, C. S.; Kim, H. L.; Kim, I.; Kim, S. R.; Kim, Y. H.; Lee, C.; Lee, H. J.; Lee, M. K.; Li, J.; Oh, S. Y.; So, J. H.
err分享
err收藏
Absolute angle measurement using a phase-encoded binary graduated disk
err2016-02-01
err51
PREAI
errKim, Jong-Ahn; Kim, Jae Wan; Kang, Chu-Shik; Jin, Jonghan; Eom, Tae Bong
err分享
err收藏
An optical straightness measurement sensor for the KRISS watt balance
err2015-02-01
err5
PREAI
errKang, Chu-Shik; Kim, Jong-Ahn; Jin, Jonghan; Eom, Tae Bong; Kim, Jae Wan
err分享
err收藏
Vibration-insensitive measurement of thickness variation of glass panels using double-slit interferometry
err2014-03-12
err15
errOAAI
errKim, Jong-Ahn; Kim, Jae Wan; Eom, Tae Bong; Jin, Jonghan; Kang, Chu-Shik
err分享
err收藏
Precision depth measurement of through silicon vias (TSVs) on 3D semiconductor packaging process
err2012-02-14
err31
errOAAI
errJin, Jonghan; Kim, Jae Wan; Kang, Chu-Shik; Kim, Jong-Ahn; Lee, Sunghun
err分享
err收藏
err分享
err收藏
Thickness and refractive index measurement of a silicon wafer based on an optical comb
err2010-08-12
err95
errOAAI
errJin, Jonghan; Kim, Jae Wan; Kang, Chu-Shik; Kim, Jong-Ahn; Eom, Tae Bong
err分享
err收藏
A passive method to compensate nonlinearity in a homodyne interferometer
err2009-12-04
err55
errOAAI
errAhn, Jeongho; Kim, Jong-Ahn; Kang, Chu-Shik; Kim, Jae Wan; Kim, Soohyun
err分享
err收藏
High resolution interferometer with multiple-pass optical configuration
err2009-11-04
err15
errOAAI
errAhn, Jeongho; Kim, Jong-Ahn; Kang, Chu-Shik; Kim, Jae-Wan; Kim, Soohyun
err分享
err收藏
High speed phase shifting interferometry using injection locking of the laser frequency to the resonant modes of a confocal Fabry-Perot cavity
err2009-01-23
err6
errOAAI
errKang, Chu-Shik; Kim, Jong-Ahn; Eom, Tae Bong; Jang, Roma; Park, Hae Yong; Kim, Jae Wan
err分享
err收藏
A compact system for simultaneous measurement of linear and angular displacements of nano-stages
err2007-01-01
err43
errOAAI
errKim, Jae Wan; Kang, Chu-Shik; Kim, Jong-Ahn; Eom, Taebong; Cho, Mijung; Kong, Hong Jin
err分享
err收藏