arrow
返回
G

G. Vannini

University of Ferrara

32H指数
311论文数
3.3K被引数
收录论文 7
发表时间
Measurement of the 78Se(n, γ)79Se cross section up to 600 keV at the n_TOF facility at CERN
err2024-12-17
err0
errOAAI
errSosnin, N. V.; Lederer-Woods, C.; Garg, R.; Battino, U.; Cristallo, S.; Dietz, M.; Heinitz, S.; Krticka, M.; Reifarth, R.; Valenta, S.; Vescovi, D.; Aberle, O.; Alcayne, V.; Amaducci, S.; Andrzejewski, J.; Audouin, L.; Becares, V.; Babiano-Suarez, V.; Bacak, M.; Barbagallo, M.; Becvar, F.; Bellia, G.; Berthoumieux, E.; Billowes, J.; Bosnar, D.; Brown, A.; Busso, M.; Caamano, M.; Caballero, L.; Calvino, F.; Calviani, M.; Cano-Ott, D.; Casanovas, A.; Cerutti, F.; Chen, Y. H.; Chiaveri, E.; Colonna, N.; Cortes, G.; Cortes-Giraldo, M. A.; Cosentino, L.; Damone, L. A.; Diakaki, M.; Domingo-Pardo, C.; Dressler, R.; Dupont, E.; Duran, I.; Eleme, Z.; Fernandez-Dominguez, B.; Ferrari, A.; Finocchiaro, P.; Furman, V.; Goebel, K.; Gawlik-Ramiega, A.; Gilardoni, S.; Glodariu, T.; Goncalves, I. F.; Gonzalez-Romero, E.; Guerrero, C.; Gunsing, F.; Harada, H.; Heyse, J.; Jenkins, D. G.; Jericha, E.; Kaeppeler, F.; Kadi, Y.; Kimura, A.; Kivel, N.; Kokkoris, M.; Kopatch, Y.; Kurtulgil, D.; Ladarescu, I.; Leeb, H.; Lerendegui-Marco, J.; Lo Meo, S.; Lonsdale, S. J.; Manna, A.; Martinez, T.; Masi, A.; Massimi, C.; Mastinu, P.; Mastromarco, M.; Matteucci, F.; Maugeri, E. A.; Mazzone, A.; Mendoza, E.; Mengoni, A.; Michalopoulou, V.; Milazzo, P. M.; Murphy, A. St. J.; Musumarra, A.; Negret, A.; Nolte, R.; Ogallar, F.; Oprea, A.; Patronis, N.; Pavlik, A.; Perkowski, J.; Piersanti, L.; Porras, I.; Praena, J.; Quesada, J. M.; Radeck, D.; Ramos-Doval, D.; Rauscher, T.; Rochman, D.; Rubbia, C.; Sabate-Gilarte, M.; Saxena, A.; Schillebeeckx, P.; Schumann, D.; Smith, A. G.; Stamatopoulos, A.; Tagliente, G.; Tain, J. L.; Talip, T.; Tarifeno-Saldivia, A.; Tassan-Got, L.; Torres-Sanchez, P.; Tsinganis, A.; Ulrich, J.; Urlass, S.; Vannini, G.; Variale, V.; Vaz, P.; Ventura, A.; Vlachoudis, V.; Vlastou, R.; Wallner, A.; Woods, P. J.; Wright, T.; Zugec, P.
err分享
err收藏
A New Calibration Technique of Electromagnetic Simulators for Accurate Analyses of Microwave Components on Epitaxial Wafers
err2024-01-01
err0
errOAAI
errKikuchi, Ken; Raffo, Antonio; Vadala, Valeria; Bosi, Gianni; Vannini, Giorgio; Yamamoto, Hiroshi
err分享
err收藏
Nonlinear-Embedding Design Methodology Oriented to LDMOS Power Amplifiers
err2018-10-01
err20
errOAAI
errBosi, Gianni; Raffo, Antonio; Trevisan, Francesco; Vadala, Valeria; Crupi, Giovanni; Vannini, Giorgio
err分享
err收藏
Experimental neutron capture data of 58Ni from the CERN n_TOF facility
err2014-01-09
err27
errOAAI
errZugec, P.; Barbagallo, M.; Colonna, N.; Bosnar, D.; Altstadt, S.; Andrzejewski, J.; Audouin, L.; Becares, V.; Becvar, F.; Belloni, F.; Berthoumieux, E.; Billowes, J.; Boccone, V.; Brugger, M.; Calviani, M.; Calvino, F.; Cano-Ott, D.; Carrapico, C.; Cerutti, F.; Chiaveri, E.; Chin, M.; Cortes, G.; Cortes-Giraldo, M. A.; Diakaki, M.; Domingo-Pardo, C.; Duran, I.; Dzysiuk, N.; Eleftheriadis, C.; Ferrari, A.; Fraval, K.; Ganesan, S.; Garcia, A. R.; Giubrone, G.; Gomez-Hornillos, M. B.; Goncalves, I. F.; Gonzalez-Romero, E.; Griesmayer, E.; Guerrero, C.; Gunsing, F.; Gurusamy, P.; Jenkins, D. G.; Jericha, E.; Kadi, Y.; Kaeppeler, F.; Karadimos, D.; Koehler, P.; Kokkoris, M.; Krticka, M.; Kroll, J.; Langer, C.; Lederer, C.; Leeb, H.; Leong, L. S.; Losito, R.; Manousos, A.; Marganiec, J.; Martinez, T.; Massimi, C.; Mastinu, P. F.; Mastromarco, M.; Meaze, M.; Mendoza, E.; Mengoni, A.; Milazzo, P. M.; Mingrone, F.; Mirea, M.; Mondalaers, W.; Paradela, C.; Pavlik, A.; Perkowski, J.; Pignatari, M.; Plompen, A.; Praena, J.; Quesada, J. M.; Rauscher, T.; Reifarth, R.; Riego, A.; Roman, F.; Rubbia, C.; Sarmento, R.; Schillebeeckx, P.; Schmidt, S.; Tagliente, G.; Tain, J. L.; Tarrio, D.; Tassan-Got, L.; Tsinganis, A.; Valenta, S.; Vannini, G.; Variale, V.; Vaz, P.; Ventura, A.; Versaci, R.; Vermeulen, M. J.; Vlachoudis, V.; Vlastou, R.; Wallner, A.; Ware, T.; Weigand, M.; Weiss, C.; Wright, T.
err分享
err收藏
A dual-source nonlinear measurement system oriented to the empirical characterization of low-frequency dispersion in microwave electron devices
err2011-02-01
err2
PREAI
errRaffo, Antonio; Vadala, Valeria; Traverso, Pier Andrea; Santarelli, Alberto; Vannini, Giorgio; Filicori, Fabio
err分享
err收藏
An Automated Measurement System for the Characterization of Electron Device Degradation Under Nonlinear Dynamic Regime
err2009-08-01
err7
PREAI
errRaffo, Antonio; Di Giacomo, Valeria; Traverso, Pier Andrea; Santarelli, Alberto; Vannini, Giorgio
err分享
err收藏