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Li, MN
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Software reliability growth with test coverage
软件可靠性随测试覆盖率的增长
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
IF
5.7
2002-12-01
143
PRE
AI
Malaiya, YK; Li, MN; Bieman, JM; Karcich, R
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合作学者
合作期刊
J
James M. Bieman
H 指数: 39 · 论文数: 147
Y
Yashwant K. Malaiya
H 指数: 34 · 论文数: 173
R
R.M. Karcich
H 指数: 6 · 论文数: 15
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