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Matthew B. Hartenstein

Colorado School of Mines
H指数:4
被引数:61

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荣誉奖项

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Measurement of poly-Si film thickness on textured surfaces by X-ray diffraction in poly-Si/SiOx passivating contacts for monocrystalline Si solar cells

通过x射线衍射测量单晶硅太阳能电池的多晶硅/SiOx钝化触点中纹理表面上的多晶硅膜厚度

2022-03-0112
OAAI