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Shijina, V

national institute of technology (nit system)

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Similarity Measure of Multiple Sets and its Application to Pattern Recognition
errinternational journal of reconfigurable computing
IF0
err2020-09-15
err3
errOAAI
errShijina, V; Unni, Adithya; John, Sunil Jacob
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研究方向

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合作学者
合作期刊
S
Sunil Jacob John
H 指数: 17 · 论文数: 136
A
Adithya Unni
H 指数: 2 · 论文数: 3
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