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Daniel Grolimund

Paul Scherrer Institute
H指数:51
被引数:1.1万

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荣誉奖项

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Element-specific, non-destructive profiling of two-dimensional dopant layers in silicon

硅中二维掺杂层的元素特异性无损表征

2026-11-110
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Imaging of electrically controlled van der Waals layer stacking in 1T-TaS2

电场调控的1T-TaS2范德华层堆叠成像

2025-11-210
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