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Tallaire, Alexandre

Universite Paris 13

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收录论文 1
发表时间
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Microwave Device Characterization Using a Widefield Diamond Microscope使用宽视场金刚石显微镜表征微波设备
errPHYSICAL REVIEW APPLIED
IF4.4
err2018-10-16
err89
errOAAI
errHorsley, Andrew; Appel, Patrick; Wolters, Janik; Achard, Jocelyn; Tallaire, Alexandre; Maletinsky, Patrick; Treutlein, Philipp
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研究方向

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合作学者
合作期刊
J
Jocelyn Achard
H 指数: 49 · 论文数: 322
P
Patrick Maletinsky
H 指数: 38 · 论文数: 178
P
Philipp Treutlein
H 指数: 35 · 论文数: 116
J
Janik Wolters
H 指数: 23 · 论文数: 119
A
Appel, Patrick
H 指数: 0 · 论文数: 3
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