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Pikulski, M.

swiss federal institutes of technology domain

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收录论文 1
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Optimization of sample-chip design for stub-matched radio-frequency reflectometry measurements
errAPPLIED PHYSICS LETTERS
IF3.6
err2012-07-23
err13
errOAAI
errHellmueller, S.; Pikulski, M.; Mueller, T.; Kueng, B.; Puebla-Hellmann, G.; Wallraff, A.; Beck, M.; Ensslin, K.; Ihn, T.
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研究方向

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合作学者
合作期刊
K
Kueng, B.
H 指数: 0 · 论文数: 7
B
Beck, M.
H 指数: 0 · 论文数: 43
W
Wallraff, A.
H 指数: 0 · 论文数: 34
I
Ihn, T.
H 指数: 0 · 论文数: 69
P
Puebla-Hellmann, G.
H 指数: 0 · 论文数: 1
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