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A

Andrew Ulvestad

Argonne National Laboratory
H指数:25
被引数:2,341

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教育背景

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荣誉奖项

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Measuring Three-Dimensional Strain and Structural Defects in a Single InGaAs Nanowire Using Coherent X-ray Multiangle Bragg Projection Ptychography

使用相干x射线多角度布拉格投影Ptychography测量单个InGaAs纳米线中的三维应变和结构缺陷

NANO LETTERS
IF9.1
2018-01-2461
OAAI
Hill, Megan O.; Calvo-Almazan, Irene; Allain, Marc; Holt, Martin V.; Ulvestad, Andrew; Treu, Julian; Koblmuller, Gregor; Huang, Chunyi; Huang, Xiaojing; Yan, Hanfei; Nazaretski, Evgeny; Chu, Yong S.; Stephenson, G. Brian; Chamard, Virginie; Lauhon, Lincoln J.; Hruszkewycz, Stephan O.

研究方向

暂未获取到该数据
R
Ross Harder
H 指数:43论文数:301被引数:9,029
O
Oleg Shpyrko
H 指数:37论文数:229被引数:5,540
W
Wonsuk Cha
H 指数:27论文数:155被引数:2,729
A
Andrej Singer
H 指数:29论文数:139被引数:4,350
S
S. O. Hruszkewycz
H 指数:20论文数:102被引数:1,749
J
Jong Woo Kim
H 指数:12论文数:20被引数:856
Y
Ying Shirley Meng
H 指数:121论文数:866被引数:5.7万
J
Jesse N. Clark
H 指数:31论文数:130被引数:3,681
G
G. B. Stephenson
H 指数:55论文数:268被引数:1.2万
E
Evan Maxey
H 指数:20论文数:67被引数:1,784