C. Suarez; C. Rojas; S.J. Shin; P.Yanez Weber; L. Albiges; R. Motzer; H. Hammers; A. Peer; J-L. Lee; W.H. Miller; T. Waddell; V. Neiman; D. Keizman; A.Zwenger Kloster; A. Weickhardt; R. Dziadziuszko; L. Suttner; M. Sharma; J.E. Burgents; T. Powles
Lee, J-L.; Park, S. H.; Kato, T.; Saika, T.; Masumori, N.; Oya, M.; Nishimoto, K.; Fujimoto, H.; Eto, M.; Kishida, T.; Lee, H. J.; Su, Y-L.; Miura, Y.; Matsubara, N.; Kitamura, H.; Cheng, A. C. K.; Xing, A.; Perini, R.; Vickery, D.; Rini, B. I.
Kelly, W. K.; Appleman, L. J.; Lin, C-C.; Armstrong, A. J.; Fischer, S. C.; Pook, D. W.; Perez Gracia, J. L.; Lee, J. L.; Berthold, D. R.; Ward, P. J.; Castellano Gauna, D. E.; Horvath, L. G.; Kim, M.; Matsubara, N.; Sumey, C.; Shabooti, M.; Yang, Z.; Connarn, J.; Stieglmaier, J.; Danila, D. C.
Armstrong, A. J.; Appleman, L. J.; Danila, D. C.; Lin, C-C.; Lee, J. L.; Matsubara, N.; Ward, P. J.; Pook, D. W.; Kim, M.; Dorff, T. B.; Fischer, S. C.; Lin, Y-C.; Horvath, L. G.; Sumey, C.; Yang, Z.; Decato, B. E.; Englert, J. M.; Smith, K. M.; Lolkema, M.; Kelly, W. K.
Kelly, W. K.; Danila, D. C.; Lin, C-C.; Lee, J-L.; Matsubara, N.; Ward, P. J.; Armstrong, A. J.; Pook, D. W.; Kim, M.; Dorff, T.; Fischer, S.; Lin, Y-C.; Horvath, L. G.; Sumey, C.; Yang, Z.; Jurida, G.; Connarn, J.; Penny, H.; Stieglmaier, J.; Appleman, L. J.
Gruenwald, V.; Mckay, R. R.; Buchler, T.; Eto, M.; Park, S. H.; Takagi, T.; Zanetta, S.; Keizman, D.; Suarez Rodriguez, C.; Negrier, S.; Lee, J-L.; Santini, D.; Bedke, J.; Staehler, M.; Kollmannsberger, C. K.; Choueiri, T. K.; Motzer, R. J.; Burgents, J.; Okpara, C. E.; Powles, T. B.
Cho, B. C.; Lee, J-L.; Shim, B.; Shin, S. J.; Lee, H. J.; Lee, J-Y.; Powderly, J.; Lee, S.; Yun, N.; Ham, M.; Lee, K. E.; Lee, W. Y.; Kang, H.; Jang, M. H.
Balar, A. V.; Castellano, D. E.; Grivas, P.; Vaughn, D. J.; Powles, T.; Vuky, J.; Fradet, Y.; Lee, J. -L.; Fong, L.; Vogelzang, N. J.; Climent, M. A.; Necchi, A.; Petrylak, D. P.; Plimack, E. R.; Xu, J. Z.; Imai, K.; Moreno, B. H.; Bellmunt, J.; de Wit, R.; O'Donnell, P. H.
De Wit, R.; Vaughn, D. J.; Fradet, Y.; Fong, L.; Vogelzang, N. J.; Climent Duran, M. A.; Necchi, A.; Petrylak, D. P.; Gerritsen, W. R.; Gurney, H. P.; Quinn, D. I.; Culine, S.; Sternberg, C. N.; Bajorin, D. F.; Choueiri, T. K.; Xu, J.; Imai, K.; Moreno, B. Homet; Bellmunt, J.; Lee, J-L.
Takemura, K.; Navani, V.; Ernst, M. S.; Wells, J. C.; Choueiri, T. K.; Meza, L.; Pal, S. K.; Lee, J-L.; Li, H.; Agarwal, N.; Alva, A. S.; Hansen, A. R.; Basappa, N. S.; Szabados, B. E.; Powles, T. B.; Tran, B.; Hocking, C. M.; Beuselinck, B.; Yuasa, T.; Heng, D. Y. C.
McDermott, D. F.; Lee, J-L.; Bjarnason, G. A.; Larkin, J.; Gafanov, R.; Kochenderfer, M. D.; Jensen, N. V.; Donskov, F.; Malik, J.; Poprach, A.; Tykodi, S. S.; Alonso-Gordoa, T.; Cho, D. C.; Geertsen, P. F.; Climent Duran, M. A.; Di Simone, C.; Liu, H.; Burgents, J.; Rodriguez-Lopez, K.; Atkins, M. B.