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Kettenis, Jeroen

Eindhoven University of Technology

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收录论文 1
发表时间
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Block-Based Detection Systems for Visual Artifact Location
errIEEE TRANSACTIONS ON CONSUMER ELECTRONICS
IF10.9
err2013-05-01
err1
errOAAI
errEerenberg, Onno; Kettenis, Jeroen; de With, Peter H. N.
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研究方向

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合作学者
合作期刊
D
de With, Peter H. N.
H 指数: 0 · 论文数: 45
E
Eerenberg, Onno
H 指数: 0 · 论文数: 2
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