Robinaugh, Donald J.; Haslbeck, Jonas M. B.; Waldorp, Lourens J.; Kossakowski, Jolanda J.; Fried, Eiko I.; Millner, Alexander J.; Mcnally, Richard J.; Ryan, Oisin; de Ron, Jill; van der Maas, Han L. J.; van Nes, Egbert H.; Scheffer, Marten; Kendler, Kenneth S.; Borsboom, Denny
Maes, S. L.; Perring, M. P.; Cohen, R.; Akinnifesi, F. K.; Bargues-Tobella, A.; Bastin, J. -f.; Bauters, M.; Bernardino, P. N.; Brancalion, P. H. S.; Bullock, J. M.; Ellison, D.; Fayolle, A.; Fremout, T.; Gann, G. D.; Hishe, H.; Holmgren, M.; Ilstedt, U.; Mahy, G.; Messier, C.; Parr, C. L.; Ryan, C. M.; Sacande, M.; Sankaran, M.; Scheffer, M. S.; Suding, K. N.; Van Meerbeek, K.; Verbeeck, H.; Verbist, B. J. P.; Verheyen, K.; Winowiecki, L. A.; Muys, B.
Setty, Shruti; Cramwinckel, Margot J.; van Nes, Egbert H.; van de Leemput, Ingrid A.; Dijkstra, Henk A.; Lourens, Lucas J.; Scheffer, Marten; Sluijs, Appy
Walker, Brian; Crepin, Anne-Sophie; Nystrom, Magnus; Anderies, John M. M.; Andersson, Erik; Elmqvist, Thomas; Queiroz, Cibele; Barrett, Scott; Bennett, Elena; Cardenas, Juan Camilo; Carpenter, Stephen R. R.; Chapin III, F. Stuart; de Zeeuw, Aart; Fischer, Joern; Folke, Carl; Levin, Simon; Nyborg, Karine; Polasky, Stephen; Segerson, Kathleen; Seto, Karen C. C.; Scheffer, Marten; Shogren, Jason F. F.; Tavoni, Alessandro; van den Bergh, Jeroen; Weber, Elke U. U.; Vincent, Jeffrey R. R.