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An On-Line BISD Triggering Scheme Based on the CAC-Compatible Error Detection Code for TSV Array

delete2025-09-16
delete0
PRE
AI
W
Wei Chen
崔小乐 封面图
崔小乐 (Xiaole Cui)
H
Huan Yang
张
张星 (Xing Zhang)
DOI:10.1109/TCAD.2025.3610774delete
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摘要

摘要

En 中文
硅通孔(TSV)阵列在三维堆叠集成电路(SICs)中扮演着垂直电气互连的重要角色。TSV故障和TSV间串扰是TSV阵列中必须解决的两个问题,以确保有效可靠的传输。无禁止状态传输(FTF)和无禁止模式(FPF)的串扰避免码(CAC)能够抑制TSV阵列中的串扰,而内置自诊断(BISD)和自修复技术分别能够定位和修复TSV故障。BISD通常在诊断模式下消耗不可忽视的时间,因此周期性BISD方案在传输性能和故障检测效率之间存在两难。按需BISD方案已被应用于解决此问题。本文提出了一种基于CAC兼容的错误检测码(EDC)的新型在线BISD触发方案。该方案在工作模式下检查通过TSV阵列传输的数据,且仅当EDC编解码器检测到错误时才及时调用BISD。与现有类似方案相比,所提出的方案不会降低FTF/FPF-CAC方法的串扰抑制效果,并且在故障检测能力和硬件开销方面实现了更好的平衡。
Keyword:
Crosstalk avoidance code (CAC)
error detection code (EDC)
fault detection
through-silicon via (TSV)

期刊

I
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
IF:
2.9
论文数:
671
被引数:
9.6K

机构

P
peking university
学者数:
11.9W
论文数: 8.7W
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