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Angular-polarization-engineered interferometric second-harmonic generation microscopy
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AI
DOI：10.1186/s43074-026-00263-1.png)
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摘要
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传统二次谐波产生（SHG）显微镜在本质上缺乏相位敏感性，而相位敏感性对于表征依赖相位信息的对称性特性至关重要。尽管干涉式二次谐波产生（I-SHG）能够通过外部参考光束的相干叠加实现相位恢复，但基于相位差调制的标准实现方式在显微系统中由于光学像差、色散伪影和偏振限制而面临固有局限性。本文介绍了一种角偏振工程化的I-SHG显微技术用于相位解析成像，提供最小的时延漂移、均匀的相位分布以及不受样品取向和偏振限制的优势。我们通过旋转单层参考来调节干涉项的偏振角依赖投影，而非使用外部相位控制元件主动扫描参考-样品相位差，从而实现稳定和高对比度的相位敏感读出。具体而言，将附着在透明基板上的二维材料薄参考层以面向样品的配置放置在物镜和样品之间。该设置在保持衍射极限分辨率和与低温真空条件兼容性的同时，实现了上述优势。通过区分反演孪晶畴（固有π相位对比），该方法在微米和亚微米结构尺度上实现了非破坏性相位敏感成像。本研究建立了一个用于非线性光学显微镜中定量对称性测量的通用平台。
Keyword:
Interferometric second-harmonic generation
Angular-polarization engineering
Phase extraction
AI总结
对已上传原文的论文进行重点信息的提取，主要内容包括：简要概述、研究摘要、背景介绍、关键亮点、图文解析、展望与总结。
期刊
IF:
19.1
论文数:
284
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机构
引用论文
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