Improving electron microscopy with light2025-12-020 PRE AI PPeter Hommelhoff * DOI:10.1038/s41566-025-01798-8原文链接分享收藏摘要 En 中文 将强激光脉冲照射在电子显微镜的电子束上,可以校正电子光学球差,为利用光改善电子显微镜成像铺平了道路。Keyword:electron microscopy laser pulses spherical aberration correction electron-optical imaging light-based enhancement