Shi, C.; van der Wal, H. H.; Sillje, H. H. W.; Dokter, M. M.; van den Berg, F.; Huizinga, L.; Vriesema, M.; Post, J.; Anker, S. D.; Cleland, J. G.; Ng, L. L.; Samani, N. J.; Dickstein, K.; Zannad, F.; Lang, C. C.; van Haelst, P. L.; Gietema, J. A.; Metra, M.; Ameri, P.; Canepa, M.; van Veldhuisen, D. J.; Voors, A. A.; de Boer, R. A.
Stewart, Shona; Darr, Marlena; Gomer, Heather; Smith, Aaron; Samiei, Arash; Post, James Christopher; Miller, Ralph J., Jr.; Lyne, John; Cohen, Jeffrey; Treado, Patrick J.
Kim, Sunghwan; Greenleaf, Robert; Miller, Mark Carl; Satish, Latha; Kathju, Sandeep; Ehrlich, Garth; Post, J. Christopher; Sotereanos, Nicholas G.; Stoodley, Paul
Nistico, L.; Kreft, R.; Gieseke, A.; Coticchia, J. M.; Burrows, A.; Khampang, P.; Liu, Y.; Kerschner, J. E.; Post, J. C.; Lonergan, S.; Sampath, R.; Hu, F. Z.; Ehrlich, G. D.; Stoodley, P.; Hall-Stoodley, L.
Buchinsky, Farrel J.; Forbes, Michael L.; Hayes, Jay D.; Shen, Kai; Ezzo, Suzanne; Compliment, James; Hogg, Justin; Hiller, N. Luisa; Hu, Fen Ze; Post, J. Christopher; Ehrlich, Garth D.