James O’Sullivan; Jaime Travesedo; Louis Pallegoix; Zhiyuan W. Huang; Patrick Hogan; Alexandre S. May; Boris Yavkin; Sen Lin; Ren-Bao Liu; Thierry Chaneliere; Sylvain Bertaina; Philippe Goldner; Daniel Estève; Denis Vion; Patrick Abgrall; Patrice Bertet; Emmanuel Flurin
Ranjan, V; Albanese, B.; Albertinale, E.; Billaud, E.; Flanigan, D.; Pla, J. J.; Schenkel, T.; Vion, D.; Esteve, D.; Flurin, E.; Morton, J. J. L.; Niquet, Y. M.; Bertet, P.
Probst, S.; Bienfait, A.; Campagne-Ibarcq, P.; Pla, J. J.; Albanese, B.; Barbosa, J. F. Da Silva; Schenkel, T.; Vion, D.; Esteve, D.; Molmer, K.; Morton, J. J. L.; Heeres, R.; Bertet, P.
Bienfait, A.; Pla, J. J.; Kubo, Y.; Stern, M.; Zhou, X.; Lo, C. C.; Weis, C. D.; Schenkel, T.; Thewalt, M. L. W.; Vion, D.; Esteve, D.; Julsgaard, B.; Molmer, K.; Morton, J. J. L.; Bertet, P.