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收藏Investigation on the Degradation Mechanism for GaN Cascode Device Under Repetitive Hard-Switching Stress
Zhang, Chi; Liu, Siyang; Li, Sheng; Ma, Yanfeng; Lu, Weihao; Huang, Jingwen; Sun, Weifeng; Yang, Zhuo; Zhu, Yuanzheng; Ni, Lihua
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收藏Understanding Electrical Parameter Degradations of P-GaN HEMT Under Repetitive Short-Circuit Stresses
Li, Sheng; Liu, Siyang; Zhang, Chi; Qian, Le; Ge, Chen; Xin, Shuxuan; Sun, Weifeng; Yang, Zhuo; Zhu, Yuanzheng; Ni, Lihua
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