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J
Jin-Young Kim
Samsung Electronics
9
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365
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2
发表时间
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IF
被引数
Dynamic Error Recovery Flow Prediction Based on Reusable Machine Learning for Low Latency NAND Flash Memory Under Process Variation
IEEE ACCESS
IF
3.6
2022-01-01
4
OA
AI
Hwang, Minyoung; Jee, Jeongju; Kang, Joonhyuk; Park, Hyuncheol; Lee, Seonmin; Kim, Jinyoung
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Message-Passing Iterative Decoding between Detector and RSC Code Decoder for PMR Channel
IEEE TRANSACTIONS ON CONSUMER ELECTRONICS
IF
10.9
2008-11-01
0
PRE
AI
Park, Donghyuk; Kim, Jinyoung; Lee, Jaejin; Lee, Joohyun
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研究方向
暂时未获取到该数据
合作学者
合作期刊
S
Seonmin Lee
H 指数: 30 · 论文数: 163
H
Hyuncheol Park
H 指数: 24 · 论文数: 290
J
Joonhyuk Kang
H 指数: 24 · 论文数: 298
J
Jaejin Lee
H 指数: 23 · 论文数: 363
J
Jeongju Jee
H 指数: 8 · 论文数: 19
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