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I
I. B. Shubinsky
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1
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IF
被引数
A METHOD TO SOLVE FUZZY RELIABILITY OPTIMIZATION PROBLEM
microelectronics reliability
IF
1.6
1995-02-01
24
PRE
AI
UTKIN, LV; GUROV, SV; SHUBINSKY, IB
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合作学者
合作期刊
L
Lev V. Utkin
H 指数: 24 · 论文数: 268
S
Sergey V. Gurov
H 指数: 12 · 论文数: 52
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