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S
Sani Nassif
international business machines (ibm)
46
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IF
被引数
The Design and Characterization of a Half-Volt 32 nm Dual-Read 6T SRAM
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS
IF
5.2
2011-09-01
1
PRE
AI
Kuang, Jente B.; Schaub, Jeremy D.; Gebara, Fadi H.; Wendel, Dieter; Froehnel, Thomas; Saroop, Sudesh; Nassif, Sani; Nowka, Kevin
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研究方向
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合作学者
合作期刊
J
J.D. Schaub
H 指数: 23 · 论文数: 84
K
Kevin Nowka
H 指数: 21 · 论文数: 109
F
Fadi H. Gebara
H 指数: 10 · 论文数: 38
D
Dieter Wendel
H 指数: 8 · 论文数: 16
S
Sudesh Saroop
H 指数: 8 · 论文数: 26
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