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Dieter Wendel

ibm usa

8H指数
16论文数
223被引数
收录论文 1
发表时间
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The Design and Characterization of a Half-Volt 32 nm Dual-Read 6T SRAM
errIEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS
IF5.2
err2011-09-01
err1
PREAI
errKuang, Jente B.; Schaub, Jeremy D.; Gebara, Fadi H.; Wendel, Dieter; Froehnel, Thomas; Saroop, Sudesh; Nassif, Sani; Nowka, Kevin
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研究方向

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合作学者
合作期刊
S
Sani Nassif
H 指数: 46 · 论文数: 228
J
J.D. Schaub
H 指数: 23 · 论文数: 84
K
Kevin Nowka
H 指数: 21 · 论文数: 109
F
Fadi H. Gebara
H 指数: 10 · 论文数: 38
S
Sudesh Saroop
H 指数: 8 · 论文数: 26
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