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Y
Y. Wang
zhejiang university
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A self-supervised learning framework based on masked autoencoder for complex wafer bin map classification
基于自编码器的自监督学习框架,用于复杂晶圆bin图分类
EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS
IF
7.5
2024-09-01
2
PRE
AI
Wang, Yi; Ni, Dong; Huang, Zhenyu; Chen, Puyang
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合作学者
合作期刊
Z
Zhenyu Huang
H 指数: 38 · 论文数: 180
D
Dong Ni
H 指数: 21 · 论文数: 96
H 指数: 0 · 论文数: 6
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