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Intel Corporation

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A self-supervised learning framework based on masked autoencoder for complex wafer bin map classification基于自编码器的自监督学习框架，用于复杂晶圆bin图分类
errEXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS
IF7.5
err2024-09-01
err2
PREAI
errWang, Yi; Ni, Dong; Huang, Zhenyu; Chen, Puyang
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研究方向

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合作学者
合作期刊
Z
Zhenyu Huang
H 指数: 38 · 论文数: 180
D
Dong Ni
H 指数: 21 · 论文数: 96
Y
Y. Wang
H 指数: 1 · 论文数: 4
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