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Saeyeon Kim

ewha womans university

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RISC-V Integrated Nested Loop Analyzer for Runtime DRAM Test Pattern GenerationRISC-V集成嵌套循环分析器用于运行时DRAM测试模式生成
errIEEE EMBEDDED SYSTEMS LETTERS
IF2
err2025-10-01
err0
PREAI
errKim, Saeyeon; Park, Sunyoung; Kim, Nahyeon; Lee, Jiyoung; Kim, Ji-Hoon
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研究方向

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合作学者
合作期刊
J
Ji-Hoon Kim
H 指数: 19 · 论文数: 139
K
Kim, Nahyeon
H 指数: 0 · 论文数: 2
P
Park, Sunyoung
H 指数: 0 · 论文数: 1
J
Jiyoung Lee
H 指数: 0 · 论文数: 0
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