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Yeonho Choi
yonsei university
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FADE: Fault-Aware Adaptive On-Die ECC for Improving Robustness
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
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3.1
2025-12-10
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PRE
AI
Youngki Moon; Juyong Lee; Nayeun Kim; Yeonho Choi; Byungsoo Kim; Sungho Kang
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Sungho Kang
H 指数: 22 · 论文数: 436
J
Juyong Lee
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Byungsoo Kim
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Y
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