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W
Wouter Ruythooren
interuniversity microelectronics centre
26
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117
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0
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5
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IF
被引数
TSV Cu Plating and Implications for CMP
electronics
IF
0
2011-04-25
1
PRE
AI
Radisic, A.; Philipsen, H. G. G.; Honore, M.; Wang, Y. S.; Heylen, N.; El-Mekki, Z.; Armini, S.; Vandersmissen, K.; Rodet, S.; Van Ammel, A.; Bender, H.; Drijbooms, C.; Vanstreels, K.; Ruythooren, W.
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Monitoring the Superfilling of Blind Holes with Electrodeposited Copper
用电沉积铜监测盲孔的超填充
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY
IF
3.3
2010-01-01
32
PRE
AI
Luhn, O.; Radisic, A.; Van Hoof, C.; Ruythooren, W.; Celis, J. -P.
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Filling of microvia with an aspect ratio of 5 by copper electrodeposition
ELECTROCHIMICA ACTA
IF
5.6
2009-03-01
104
PRE
AI
Luehn, O.; Van Hoof, C.; Ruythooren, W.; Celis, J. -P.
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The role of Al on Ohmic contact formation on n-type GaN and AlGaN/GaN -: art. no. 061908
APPLIED PHYSICS LETTERS
IF
3.6
2005-08-02
103
PRE
AI
Van Daele, B; Van Tendeloo, G; Ruythooren, W; Derluyn, J; Leys, MR; Germain, M
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Microstructural investigation of Co-P by TEM
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY
IF
3.3
2004-01-01
5
PRE
AI
Ruythooren, W; De Boeck, J; Celis, JP
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研究方向
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合作学者
合作期刊
C
Chris Van Hoof
H 指数: 68 · 论文数: 870
J
Jean‐Pierre Célis
H 指数: 61 · 论文数: 735
H
H. Bender
H 指数: 51 · 论文数: 687
J
J. De Boeck
H 指数: 35 · 论文数: 220
K
Kris Vanstreels
H 指数: 26 · 论文数: 167
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