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D.P. Nyquist
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Electromagnetic characterization of layered materials via direct and de-embed methods
IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
IF
5.9
2006-02-01
28
PRE
AI
Havrilla, MJ; Nyquist, DP
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THE SINGULARITY EXPANSION METHOD AND ITS APPLICATION TO TARGET IDENTIFICATION
PROCEEDINGS OF THE IEEE
IF
25.9
1991-01-01
266
PRE
AI
BAUM, CE; ROTHWELL, EJ; CHEN, KM; NYQUIST, DP
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研究方向
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合作学者
合作期刊
E
Edward J. Rothwell
H 指数: 35 · 论文数: 310
C
Carl E. Baum
H 指数: 35 · 论文数: 311
M
Michael J. Havrilla
H 指数: 17 · 论文数: 131
K
K.-M. Chen
H 指数: 10 · 论文数: 22
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