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Y
Y. Yasuda
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11
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52
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3
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IF
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Threshold voltage fluctuations induced by statistical 'position' and 'number' impurity fluctuations in bulk MOSFETs
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES
IF
3.3
2000-11-01
3
PRE
AI
Yasuda, Y; Takamiya, M; Hiramoto, T
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ADVANCES IN FAX
PROCEEDINGS OF THE IEEE
IF
25.9
1985-01-01
12
PRE
AI
YASUDA, Y; YAMAZAKI, Y; KAMAE, T; KOBAYASHI, K
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DATA-COMPRESSION FOR CHECK PROCESSING MACHINES
PROCEEDINGS OF THE IEEE
IF
25.9
1980-01-01
26
PRE
AI
YASUDA, Y; DUBOIS, M; HUANG, TS
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研究方向
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合作学者
合作期刊
T
Thomas S. Huang
H 指数: 144 · 论文数: 1.4K
T
Toshiro Hiramoto
H 指数: 42 · 论文数: 634
M
Makoto Takamiya
H 指数: 38 · 论文数: 386
K
K. Kobayashi
H 指数: 13 · 论文数: 83
Y
Yasuhiro YAMAZAKI
H 指数: 13 · 论文数: 189
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