S
Simon M. Sze
H指数:55
被引数:1.4万
个人简介
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教育背景
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工作经历
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荣誉奖项
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双层InWZnO基导电桥随机存储器中HfO2薄膜的沉积工艺及厚度效应研究
VACUUM
IF3.9
InWZno薄膜作为电阻开关层的辐射硬度
超临界流体共溶剂氧化氧空位钝化改善铟镓锌氧化物的热稳定性
通过高压氧化技术调节InWZnO薄膜的氧空位和电阻开关
退火环境对InWZnO导电桥随机存储器性能的影响
VACUUM
IF3.9
氧浓度对InWZnO薄膜导电桥随机存储器的影响
NANOMATERIALS
IF4.3
NANOSCALE
IF5.1

