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收藏One-Step Passivation of Both Sulfur Vacancies and SiO2 Interface Traps of MoS2 DeviceMoS2器件的硫空位和SiO2界面陷阱的一步钝化
Ahn, Byungwook; Kim, Yoonsok; Kim, Meeree; Yu, Hyang Mi; Ahn, Jaehun; Sim, Eunji; Ji, Hyunjin; Gul, Hamza Zad; Kim, Keun Soo; Ihm, Kyuwook; Lee, Hyoyoung; Kim, Eun Kyu; Lim, Seong Chu
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