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Maarten L. S. van der Geest

Vrije Universiteit Amsterdam

2H指数
7论文数
27被引数
收录论文 1
发表时间
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Breaking Abbe's diffraction limit with harmonic deactivation microscopy
errSCIENCE ADVANCES
IF12.5
err2024-11-15
err0
errOAAI
errMurzyn, Kevin; van der Geest, Maarten L. S.; Guery, Leo; Nie, Zhonghui; van Essen, Pieter; Witte, Stefan; Kraus, Peter M.
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研究方向

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合作学者
合作期刊
S
Stefan Witte
H 指数: 36 · 论文数: 252
P
Peter M. Kraus
H 指数: 22 · 论文数: 115
Z
Zhonghui Nie
H 指数: 14 · 论文数: 52
P
Pieter J. van Essen
H 指数: 4 · 论文数: 10
K
Kevin Murzyn
H 指数: 4 · 论文数: 9
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