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J
Jooncheol Lee
National Yang Ming Chiao Tung University
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1
发表时间
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IF
被引数
Cycle time estimation for semiconductor final testing processes with Weibull-distributed waiting time
INTERNATIONAL JOURNAL OF PRODUCTION RESEARCH
IF
7.3
2012-01-15
25
PRE
AI
Tai, Y. T.; Pearn, W. L.; Lee, J. H.
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合作学者
合作期刊
W
W. L. Pearn
H 指数: 39 · 论文数: 272
Y
Y. T. Tai
H 指数: 10 · 论文数: 26
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