logo
科言猫学术研究的AI总结
language
手机端手机端
  • Phone Feature微信小程序
简体中文简体中文
notice消息通知
博客博客
delete
arrow
返回
Y

Young-Chan Oh

sk group

3H指数
8论文数
34被引数
收录论文 3
发表时间
logo
Development of a spatial dimension-based taxonomy for classifying the defect patterns in a wafer bin map开发基于空间维度的分类法，用于对晶圆仓图中的缺陷模式进行分类
errADVANCED ENGINEERING INFORMATICS
IF9.9
err2024-04-01
err0
PREAI
errChoi, Seung-Hyun; Lee, Dong-Hee; Kim, Eun-Su; Bae, Young-Mok; Oh, Young-Chan; Kim, Kwang-Jae
err分享
err收藏
Development of taxonomy for classifying defect patterns on wafer bin map using Bin2Vec and clustering methods使用Bin2Vec和聚类方法开发用于分类晶圆bin图上缺陷模式的分类法
errCOMPUTERS IN INDUSTRY
IF9.1
err2023-11-01
err0
PREAI
errLee, Dong-Hee; Kim, Eun-Su; Choi, Seung-Hyun; Bae, Young-Mok; Park, Jong-Bum; Oh, Young-Chan; Kim, Kwang-Jae
err分享
err收藏
An oversampling method for wafer map defect pattern classification considering small and imbalanced data考虑小数据和不平衡数据的晶片图缺陷模式分类的过采样方法
errCOMPUTERS & INDUSTRIAL ENGINEERING
IF6.5
err2021-12-01
err19
PREAI
errKim, Eun-Su; Choi, Seung-Hyun; Lee, Dong-Hee; Kim, Kwang-Jae; Bae, Young-Mok; Oh, Young-Chan
err分享
err收藏

研究方向

暂时未获取到该数据
合作学者
合作期刊
K
Kwang-Jae Kim
H 指数: 30 · 论文数: 146
D
Dong‐Hee Lee
H 指数: 23 · 论文数: 234
S
Seung-Hyun Choi
H 指数: 10 · 论文数: 54
J
Jong-Bum Park
H 指数: 9 · 论文数: 65
E
Eun‐Su Kim
H 指数: 8 · 论文数: 98
查看更多