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K. Schonenberg

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17H指数
44论文数
1.3K被引数
收录论文 2
发表时间
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Nanoscale characterization of stresses in semiconductor devices by quantitative electron diffraction
errAPPLIED PHYSICS LETTERS
IF3.6
err2000-07-17
err16
errOAAI
errDemarest, J; Hull, R; Schonenberg, KT; Janssens, KGF
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A manufacturable poly-emitter graded-SiGe HBT technology for wireless and mixed-signal applications
errAPPLIED SURFACE SCIENCE
IF6.9
err1996-08-01
err3
PREAI
errNguyenNgoc, D; Sunderland, DA; Ahlgren, DC; Jeng, SJ; Gilbert, MM; Malinowski, JC; Schonenberg, KT; Stein, KS; Meyerson, BS; Harame, DL
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研究方向

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合作学者
合作期刊
B
B.S. Meyerson
H 指数: 55 · 论文数: 223
R
R. Hull
H 指数: 53 · 论文数: 409
D
D.L. Harame
H 指数: 45 · 论文数: 308
D
D. Ahlgren
H 指数: 29 · 论文数: 98
J
J. Demarest
H 指数: 22 · 论文数: 103
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