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Y

Young Gwang Kim

Chosun University

1H指数
2论文数
27被引数
收录论文 1
发表时间
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Low cost wafer metrology using a NIR low coherence interferometry
errOPTICS EXPRESS
IF3.3
err2013-05-30
err18
errOAAI
errKim, Young Gwang; Seo, Yong Bum; Joo, Ki-Nam
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研究方向

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合作学者
合作期刊
K
Ki-Nam Joo
H 指数: 17 · 论文数: 93
Y
Yong Bum Seo
H 指数: 6 · 论文数: 11
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