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D. Bhattacharya

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14H指数
33论文数
608被引数
收录论文 1
发表时间
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Integrated circuit testing for quality assurance in manufacturing: History, current status, and future trends用于制造质量保证的集成电路测试: 历史，现状和未来趋势
errIEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS
IF4.9
err1997-01-01
err52
PREAI
errGrochowski, A; Bhattacharya, D; Viswanathan, TR; Laker, K
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研究方向

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合作学者
合作期刊
K
K.R. Laker
H 指数: 21 · 论文数: 87
T
T.R. Viswanathan
H 指数: 20 · 论文数: 112
A
A. Grochowski
H 指数: 2 · 论文数: 3
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