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Christian Floris

Delft University of Technology

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2论文数
1被引数
收录论文 1
发表时间
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Electron-beam patterned calibration structures for structured illumination microscopy
errSCIENTIFIC REPORTS
IF3.9
err2022-11-23
err0
errOAAI
errHari, Sangeetha; Slotman, Johan A.; Vos, Yoram; Floris, Christian; van Cappellen, Wiggert A.; Hagen, C. W.; Stallinga, Sjoerd; Houtsmuller, Adriaan B.; Hoogenboom, Jacob P.
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研究方向

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合作学者
合作期刊
A
Adriaan B. Houtsmuller
H 指数: 67 · 论文数: 216
W
Wiggert A. van Cappellen
H 指数: 37 · 论文数: 160
J
Jacob P. Hoogenboom
H 指数: 33 · 论文数: 139
S
Sjoerd Stallinga
H 指数: 31 · 论文数: 145
J
Johan A. Slotman
H 指数: 22 · 论文数: 73
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