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C

Chao-Jung Chang

National Yang Ming Chiao Tung University

1H指数
5论文数
3被引数
收录论文 1
发表时间
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Increasing detectability in semiconductor foundry by multivariate statistical process control
errTOTAL QUALITY MANAGEMENT & BUSINESS EXCELLENCE
IF4.8
err2008-05-01
err1
PREAI
errYang, Chyan; Chang, Chao-Jung; Niu, Han-Jen; Wu, Hsueh-Chang
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研究方向

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合作学者
合作期刊
C
Chyan Yang
H 指数: 29 · 论文数: 171
H
Han‐Jen Niu
H 指数: 10 · 论文数: 30
H
Hsueh-Chang Wu
H 指数: 2 · 论文数: 3
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