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Hsueh-Chang Wu

National Yang Ming Chiao Tung University

2H指数
3论文数
6被引数
收录论文 1
发表时间
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Increasing detectability in semiconductor foundry by multivariate statistical process control
errTOTAL QUALITY MANAGEMENT & BUSINESS EXCELLENCE
IF4.8
err2008-05-01
err1
PREAI
errYang, Chyan; Chang, Chao-Jung; Niu, Han-Jen; Wu, Hsueh-Chang
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研究方向

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合作学者
合作期刊
C
Chyan Yang
H 指数: 29 · 论文数: 171
H
Han‐Jen Niu
H 指数: 10 · 论文数: 30
C
Chao-Jung Chang
H 指数: 1 · 论文数: 5
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